安捷倫4291B阻抗分析儀4291B回收
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二手進(jìn)口設(shè)備回收
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安捷倫4291B射頻阻抗/材料分析儀提供了一個高jq度和容易測量的表面貼裝元件和介電/磁性??材料的整體解決方案。安捷倫4291B使用直接的電流 - 電壓測量技術(shù),反對反射測量技術(shù),為更廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供jq的阻抗測量。
基本阻抗精度為+ / - 0.8%。高Q精度使低損耗的成分分析。內(nèi)部合成器,掃描頻率從1 MHz到1.8 GHz 1 mHz的分辨率。一個1.8米的錯誤更少的電纜連接分析儀測試站,這樣可以延長您的測試點(diǎn)距離分析儀,而不會失去準(zhǔn)確性。先進(jìn)的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能,xc固定裝置的測量誤差因素,并保證在DUT / MUT很高的精度和可重復(fù)性。
安捷倫4291B還提供了自動電平控制,使用IBASIC編程功能和測試信號的監(jiān)控,可以根據(jù)一個恒定的電壓或電流測量設(shè)備。測量偏壓依賴可選直流偏置(高達(dá)40 V和100毫安)的阻抗特性。在按下一個按鈕,內(nèi)置等效電路分析功能自動計(jì)算出5個電路模型的電路常數(shù)值。
安捷倫4291B有兩個測量通道,每個通道都可以設(shè)置為衡量一個單一的(如Z)或雙(如Z -θ)阻抗參數(shù)。分割顯示彩色TFT顯示活動的痕跡和記憶痕跡(存儲在RAM中)。一個內(nèi)置的軟盤驅(qū)動器的存儲程序和LIF或MS - DOS格式的測試數(shù)據(jù)。隨著內(nèi)置IBASIC,您可以控制??外部測試設(shè)備,如溫度室或直接從安捷倫4291B晶圓探針。你不需要一個單獨(dú)的儀器控制器。