半導體分立器件高低溫老化巡測系統(tǒng)

　　分立器件高低溫巡測系統(tǒng)是北京勵芯泰思特測試技術責任有限公司為軍工、航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的半導體分立器件測試輔助設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件的放大倍數(shù)，擊穿電壓，漏電流等電參數(shù)進行時實測試。免去了以往要拿出高低溫箱在進行測試的不便及誤差。

　　一、系統(tǒng)組成

　　1.巡測控制器

　　2.128管位老化插座板

　　3.Espec高低溫箱（自選）

　　二、巡測控制器：

　　巡測控制儀有手動和程控兩種使用方式。手動方式通過控制器上的按鍵、程控方式通過計算機串行通訊口來控制矩陣板上的繼電器閉合，將B、C、E分配到第N個被測器件上。

　三、Espec高低溫箱（用戶自選）

　　高低溫范圍-55度-+155度

　　四、使用范圍

　　本巡測控制器主要用于半導體分立器件在高低溫環(huán)境下的電性能檢測。目前，許多的廠家對器件的質(zhì)量越來越重視，購進了一些高低溫的設備，但是，在進行測試時，卻是將被測試器件從高低溫箱中拿出來，然后再進行測試，這個過程持續(xù)的時間雖然不長，可是被測器件的溫度已然有了變化，溫度環(huán)境的變化導致測試數(shù)據(jù)的偏移，巡測控制器可以解決上述的問題，保證器件是在設定的溫度環(huán)境中進行時實測試。

　　五、使用說明

　　本控制器有自動和手動兩種控制方式。如果用戶需要和圖示儀進行連接，通常采用手動控制方式，因為DUT的合格與否，需要操作人員觀察圖示儀，然后加以判斷，不必采用自動方式。如果用戶希望購買BC3193分立器件測試儀，則可以采用自動方式進行操作，并且測試的結果可以自動紀錄，非常方便，特別推薦采用該方式進行操作。

　　巡測控制器由兩部分組成：控制器和老化插座板。

　　控制器內(nèi)置MCU，由他發(fā)出控制信號，控制繼電器矩陣，將測試信號逐個切換到被測器件，以便對器件進行測試。

　　插件盒包含了繼電器矩陣、其他一些控制，以及一個可以插入128個被測試器件的測試老化板，使用時用戶可以將被測試器件成批插入老化板，然后放入高低溫箱中，連接好電纜，待溫度環(huán)境合適時，便可以由控制器進行控制逐個將被測試器件全部測試完。

　　老化板上的插座有多種樣式，可以滿足用戶測試各種封裝的分立器件。