硬件獨(dú)特性: 雙屏顯示設(shè)計(jì)，造型時(shí)尚專業(yè)，帶多節(jié)點(diǎn)預(yù)啟動裝置和實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)；帶門鎖電鎖，使得日常管理更便捷；已集成工業(yè)級計(jì)算機(jī)，無需再外接電腦；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；帶電動開蓋裝置，令測試更輕松。超高的分辨率可輕松解決貴金屬行業(yè)無損分析的任何復(fù)雜要求。為貴金屬行業(yè)xjb{zh0}的{dj0}光譜儀。 激發(fā)源：Mo靶的X光管 風(fēng)冷 (無輻射） 測量點(diǎn)尺寸：1～2mm 樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統(tǒng) 軟件：XRF6.0菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算 探測器：Si-PIN 探測器 其它規(guī)格： 電壓：交流220V/50Hz {zd0}功率:144W {zd0}處尺寸:500mm*500mm*400mm 重量:30kg 技術(shù)指標(biāo)： 分析范圍：0.001%～99.999% 測量時(shí)間：自適應(yīng) 測量精度： ± 0.001%--0.1% 分辨率 ：120-170eV at Mn K-aipha 測試環(huán)境：常溫常態(tài) 分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從AL至U的所有元素進(jìn)行分析，實(shí)為貴金屬行業(yè)常量分析中的實(shí)驗(yàn)室級光譜儀。 X射線源：X射線光管 高壓器：4～80Kv 分析：多通道模擬 操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP 鍍層測量： 鍍層厚度范圍<30μm 可測量元素種類：金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對銥Ir,鋨OS等70多種元素。 {zd0}測量層數(shù)：5層 測量精度：0.03μm 廠家：深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限公司 地址：深圳市寶安區(qū)25區(qū)華豐商貿(mào)城5樓A15 區(qū)域經(jīng)理：曾祥芬 手機(jī)：134 1862 4495