ATE檢測(cè)系統(tǒng)功能構(gòu)造
通盤而論，兩大部類，〔1〕核心測(cè)試構(gòu)造：承襲于傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)，檢測(cè)技術(shù)，自動(dòng)的實(shí)施信號(hào)處理（電子信號(hào)測(cè)量）。針對(duì)不同的DUT的測(cè)試提案不同，核心測(cè)試構(gòu)造也會(huì)有所不同。〔2〕計(jì)算機(jī)控制構(gòu)造：處理的速度和能力，取決于當(dāng)時(shí)的計(jì)算機(jī)能力。計(jì)算機(jī)技術(shù)事實(shí)上已經(jīng)變成了通用技術(shù)了，對(duì)于一套ATE來(lái)說(shuō)，高指標(biāo)的計(jì)算機(jī)不見得是多好的計(jì)算機(jī)，滿足系統(tǒng)的需要，協(xié)調(diào)才是更好的標(biāo)準(zhǔn)。事實(shí)上，復(fù)雜的ATE設(shè)備的價(jià)格，相對(duì)于先進(jìn)的高指標(biāo)的fu務(wù)器價(jià)格來(lái)說(shuō)，相當(dāng)于巨人跟侏儒的嬰兒的關(guān)系了。 總體上來(lái)說(shuō)，計(jì)算機(jī)技術(shù)的作用，控制系統(tǒng)的協(xié)調(diào)，控制信號(hào)的注入路徑，控制數(shù)據(jù)的采集和處理，等等。
在所有的電子元器件(Device)的制造工藝?yán)锩?，存在著去偽存真的需要，這種需要實(shí)際上是一個(gè)試驗(yàn)的過(guò)程。為了實(shí)現(xiàn)這種過(guò)程，就需要各種試驗(yàn)設(shè)備，這類設(shè)備就是所謂的ATE(Automatic Test Equipment)。 這里所說(shuō)的電子元器件 DUT(Device Under Test)，當(dāng)然bao括IC類別，此外，還bao括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各個(gè)環(huán)節(jié)，具體的取決于工藝(Process)設(shè)計(jì)的要求。
TE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
ATE測(cè)試由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號(hào)自動(dòng)采集系統(tǒng)，廣泛運(yùn)用于ICT,FCT等測(cè)試設(shè)備。軟件部分采用NI LABView編寫，全自動(dòng)依次采集并判定PASS/FAIL,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表并上傳數(shù)據(jù)庫(kù).
