晶體阻抗計（晶振測試儀）是一種專業(yè)的晶振測試設(shè)備，主要測試無源晶振相應(yīng)的電參數(shù)。采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

發(fā)展歷史

晶振測試主要方法主要經(jīng)歷了早期的晶體阻抗計，到目前主流的網(wǎng)絡(luò)分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據(jù)為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規(guī)程，代表產(chǎn)品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經(jīng)歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認(rèn)的測試方法為網(wǎng)絡(luò)分析儀測試方案，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》，典型產(chǎn)品有智慧源的GDS-80系列等。

工作原理

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GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能。

功能配置

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自動測試功能；

超值報警功能

上位機軟件通信功能

尺寸參數(shù)

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250*280*150mm

產(chǎn)品特點

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1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定

2. 掃描范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）

3. 負(fù)載電容：1-100P 任意設(shè)定

4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm） 測量精度：±5ppm

5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

6. 負(fù)載電容CL測量范圍：1-200PF

7. 時基誤差：±1ppm

8. 負(fù)載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

注意事項

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1.設(shè)備需要定期進(jìn)行PI網(wǎng)絡(luò)校準(zhǔn)

2.設(shè)備需要定期進(jìn)行頻率校準(zhǔn)